一种曝光设备和方法,可优化光致抗蚀剂膜的曝光,而与光致抗蚀剂膜因曝光而发生的化学反应无关。利用第1光致抗蚀剂膜和第1半导体片测量最佳曝光,并将获得的数据存到存储器中,然后用相同的曝光对第2半导体片上的第2光致抗蚀剂膜曝光,测量开始曝光时由第2光致抗蚀剂膜和第2半导体片的反射光强。读出存储的第1光致抗蚀剂膜和第1半导体片的最佳曝光时间数据,将它用作第2光致抗蚀剂膜和第2半导体片的最佳曝光时间。
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