合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 在集成电路设计期间快速模拟制造影响的设备、方法和系统

在集成电路设计期间快速模拟制造影响的设备、方法和系统

728   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:14:37
本发明涉及在集成电路设计期间快速模拟制造影响的设备、方法和系统。方法、设备和计算机程序产品提供了一种快速和准确的模型,用于模拟在集成电路制造期间的化学机械抛光(CMP)步骤的影响,通过产生集成电路的设计;在产生所述集成电路的设计时,使用简化的模型来预测所述集成电路的由在所述集成电路的制造期间将要使用的CMP处理步骤引起的至少一个物理特性,其中所述简化的模型源于在使用综合模拟程序的设计产生活动之前进行的模拟,所述综合模拟程序用于对所述物理特性进行建模;使用所述预测的物理特性来预测所述集成电路的性能;以及根据所述性能预测来调整所述集成电路的设计。
声明:
“在集成电路设计期间快速模拟制造影响的设备、方法和系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记