本发明公开了一种熔石英光学基底表面氟化物薄膜的快速脱膜方法,属于光学元件制备方法技术领域,该方法利用复分解反应或络合反应,在室温或加热条件下反应,使熔石英光学基底表面氟化物发生化学反应而被彻底清除,热水浴中反应除膜,最快仅需20-30分钟,温水浴中除膜需1.5-2.5小时,室温除膜需3-7小时。脱膜后与未镀膜光学基底相比表面粗糙度无明显变化,亦无可探测物理或化学损伤。
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