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透射电子显微镜样品结染色的方法

976   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:13:36
本发明提供了一种透射电子显微镜样品结染色的方法,包括:切割样品的第一侧面至距离待测结侧向地距离第一预定厚度的SiO2的位置处;使用第一化学试剂去除第一侧面上剩余的全部SiO2;使用第二化学试剂去除待测结中的掺杂硅;完成透射电子显微镜样品的第二侧面的切割制备,形成透射电子显微镜样品薄片,其中离子束不直接切到Si,而侧向地保留距离待测结的第二预定厚度的SiO2。
声明:
“透射电子显微镜样品结染色的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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