合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 样品去层次方法

样品去层次方法

943   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:45:48
本发明涉及一种样品去层次方法,用于半导体芯片的失效分析,包括以下步骤:步骤S1、所述半导体芯片具有一目标区域;步骤S2、研磨所述半导体芯片,并停止于位于所述层间介质层上表面的所述金属层;步骤S3、形成一保护膜层,所述保护膜层覆盖所述目标区域的正上方的所述金属层的上表面;步骤S4、继续研磨所述半导体芯片,去除位于所述保护膜层下方的所述金属层之外的所述金属层;步骤S5、去除所述保护膜层;步骤S6、去除所述金属层;步骤S7、去除所述半导体衬底上表面的其余物质,露出所述半导体衬底。其优点在于,设置一层保护膜层,避免出现化学试剂与金属层反应,保障半导体衬底不被损伤以及污染;有效提高失效分析的准确性,提高工作效率。
声明:
“样品去层次方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记