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硅片表面钝化方法

861   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:36:51
硅片表面钝化方法,涉及太阳能光伏硅片检测技术领域,包括:将清洗后的硅片放入化学抛光液中,进行化学抛光以去除硅片表面损伤层,其中抛光液的配比为氢氟酸:硝酸=1:3~6;2~5分钟后从抛光液中取出用去离子水漂洗干净;将抛光后的硅片放入塑料自封袋中,用滴管吸取配制好的钝化液滴入装有硅片的自封袋中,同时将钝化液均匀地滩涂在硅片表面,其中钝化液的配比为高纯固体碘:无水酒精=1g:50~100ml;10~20分钟后放入WT-2000少子寿命测试仪中进行测试,少子寿命会有明显提升。本发明的有益效果是:解决了硅片少子寿命测量误差偏大导致质量误判的问题,硅片表面钝化可以有效地降低表面少子寿命复合率,少子寿命提高10~30倍,真实的反应出硅片的质量。
声明:
“硅片表面钝化方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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