合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 判断复合介电层质量的方法

判断复合介电层质量的方法

1074   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:36:07
本发明提出一种判断复合介电层质量的方法,包括下列步骤:在半导体衬底上化学气相沉积复合介电层,所述复合介电层包括一层或者一层以上低介电常数介电层,和一层或者一层以上低介电常数阻挡层,其中,任意一层低介电常数介电层和低介电常数阻挡层的材料都不相同;对所述复合介电层进行干法蚀刻直至露出半导体衬底,形成凹槽结构;对所述凹槽结构的侧壁进行湿法蚀刻,形成刻蚀程度不同的侧壁结构;对所述复合介电层的侧壁结构进行分析,以便判断复合介电层的质量。本发明提出的判断复合介电层质量的方法,可简单有效地判断复合介电层的质量,节省大量时间。
声明:
“判断复合介电层质量的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记