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判断复合介电层质量的方法

1063   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:36:07
本发明提出一种判断复合介电层质量的方法,包括下列步骤:在半导体衬底上化学气相沉积复合介电层,所述复合介电层包括一层或者一层以上低介电常数介电层,和一层或者一层以上低介电常数阻挡层,其中,任意一层低介电常数介电层和低介电常数阻挡层的材料都不相同;对所述复合介电层进行干法蚀刻直至露出半导体衬底,形成凹槽结构;对所述凹槽结构的侧壁进行湿法蚀刻,形成刻蚀程度不同的侧壁结构;对所述复合介电层的侧壁结构进行分析,以便判断复合介电层的质量。本发明提出的判断复合介电层质量的方法,可简单有效地判断复合介电层的质量,节省大量时间。
声明:
“判断复合介电层质量的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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