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基于分子层面的岩石微观结构和性质的研究方法

1119   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:32:31
本发明涉及一种基于分子层面的岩石微观结构和性质的研究方法,包括以下步骤:先通过X射线衍射试验获得岩石的主要矿物成分,从而获得岩石主要矿物成分的晶体结构;然后计算主要矿物晶体的化学键参数并对计算结果进行分析和验证,计算矿物晶体的弹性参数并对计算结果进行分析和验证;再根据矿物晶体化学键和弹性参数进行相关性分析。本发明提供的研究方法从分子层面研究岩石的微观特性,为揭示岩石宏观物理力学性质的微观本质机理提供理论依据。研究结果不仅为岩石工程、边坡加固工程提供理论支撑,同时对石质文物保护具有重要意义。
声明:
“基于分子层面的岩石微观结构和性质的研究方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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