本发明提供一种筛选不受补体干扰的单克隆抗体对的方法,包括以下步骤:S10:获得阴性样本混合物;S20:在阴性样本混合物中加入抗原,获得检测样本一;S30:对阴性样本混合物进行加热,并加入抗原,获得检测样本二;S40:在检测样本二中加入补体,获得检测样本三;S50:用待选单克隆抗体对制备的化学发光试剂,对检测样本一、检测样本二和检测样本三分别进行免疫化学发光检测,获得检测结果一、检测结果二、检测结果三;S60:根据检测结果一、检测结果二、检测结果三,获得不受补体干扰的单克隆抗体对。本发明解决了免疫诊断常常受到补体干扰,影响免疫检测的准确性的技术问题,实现了免疫诊断不易受补体干扰,提高免疫诊断准确性的技术效果。
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