本发明通过获取与外延生长设备相关的一或多种硬件设计参数和外延工艺参数,将之构成参数值集合,并基于物理和/或化学理论原理,对参数间数学关系进行分析和判定提炼,辅以处理和存储的系统,用图谱的形式预测外延工艺的一种方法;其中,图谱通过多个参数组合取值区域分别描述反应腔的一或多个物理场、化学场、或者耦合场的多个变化形态。而且,图谱中包含用于示出生长有利的合理参数组合取值区域的界线。通过多条件集合的“面”技术而非单个条件的“点”技术,定出合理参数组合的外延工艺窗口。指导研发或生产工艺运行,避开不利于生长的区域,从而有效提高生长效率、降低有害沉积(保持腔体干净、延长维护周期),加快新型设备的成型和量产。
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