本发明提出了由电子衍射花样进行物相识别的新方法,可用于已知化学组分但不能确定其晶体结构的材料的物相识别,尤其适用于难以获得多张衍射花样的场合。本发明的优点为:只需要记录一张含高阶劳厄衍射环的带轴电子衍射花样或者在同一待测晶体的晶粒上记录一张零阶劳厄衍射点花样和一张对应的高阶劳厄衍射环花样,虽然不能完全确定待测晶体的布拉菲格子,但利用所测量的高阶劳厄衍射环的半径和初基原胞体积与目标结构的计算结果比对,不仅能提高指标化的准确性,还能有效过滤不满足条件的备选物相,大大提高了物相分析的准确性;在实际的电镜实验和数据分析中,明显提高工作效率。
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