本发明属于一种基于一元二次回归模型定量反演岩石SiO
2含量的方法,具体包括:一、岩石发射率光谱测量,获取岩石样本发射率曲线;二、岩石样品SiO
2含量室内定量化学分析;三、表征岩石SiO
2含量诊断波长选取和光谱指数构建;四、构建岩石样品SiO
2含量定量反演模型;五、岩石样品SiO
2含量定量反演模型精度评价。通过主观和客观评价得出该模型反演精度优于90%,可用于野外快速准确的识别岩石SiO
2含量,大大降低了岩石SiO
2含量室内化学分析的时间和经济成本,这对加快与硅化、石英脉相关的矿产勘查进度具有重要的推动意义。
声明:
“基于一元二次回归模型定量反演岩石SiO2含量的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)