本发明属于热学测量技术领域,具体为一种基于椭偏仪的
纳米材料熔点的测量方法。本发明利用椭偏仪测量不同温度下纳米材料的光学性质,根据纳米材料从固态转变到液态时其光学性质也会随之改变的原理,从而测得纳米材料的熔点。本发明可快速、非破坏、非接触测量纳米材料的熔点。在物理、化学、生物医学、环境科学等众多领域,具有广泛的应用前景。
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“基于椭偏仪的纳米材料熔点的测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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