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低温分子束产生和速度的测量装置及方法

649   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:28:47
本发明公开了一种低温分子束产生和速度的测量装置及方法,其装置包括:4K低温分子束源产生器、静电四极直导引、高压直流电源、高压开关、DIO64数据采集卡时序控制装置、LabVIEW控制模块及四极质谱仪信号测量器。其方法是通过4K温度氦(He)原子与样品分子进行碰撞得到冷分子束,经过与4K?He原子充分的碰撞后得到低平动和内态温度的分子束源。四极质谱仪探测到所有化学性质稳定的分子,配合高压开关和静电四极直导引,得到所有可导引的极性分子的速度分布信息。本发明适用于测量缺乏分子光谱数据信息的分子束速度分布。
声明:
“低温分子束产生和速度的测量装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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