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组合式光寻址电位传感器测试平台

882   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:27:50
提供一种“组合式光寻址电位传感器(LAPS)测试平台”,包括主体框架1、光源控制器2、光源阵列插板3、LAPS芯片插板4、电极固定插板5、门板6,六个部分。LAPS芯片插板4的设计,采用了将LAPS芯片与储液空间合二为一的方法;光源阵列的设计,采用了将光源与光源控制器分离的方案;测试平台的组合方式,采用了插装的方式,将光源阵列插板3、LAPS芯片插板4、以及电极固定插板5通过主体框架1内插槽8、9、10,插装并固定在主体框架1内。本实用新型为LAPS提供液态电化学测试体系,解决了光源阵列与LAPS敏感单元阵列的匹配和对准问题。并且,当LAPS芯片的敏感单元阵列结构发生变化时,无须更改测试平台整体结构,满足LAPS对测试平台灵活性的要求。
声明:
“组合式光寻址电位传感器测试平台” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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