合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 基于多重稀释法的半导体溶剂ICP-MS测定方法

基于多重稀释法的半导体溶剂ICP-MS测定方法

985   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:27:49
本发明提供一种基于多重稀释法的半导体化学品ICP‑MS测定方法,包括如下步骤:首先将不能与水混合的待测定的半导体溶剂,加入助溶溶剂成为混合有机溶剂;然后将混合有机溶剂加纯水稀释得到1#稀释样品;再将1#稀释样品再加入纯水进行稀释得到2#稀释样品;对于待测定的半导体溶剂中的一种元素,以1#稀释样品,用电感耦合等离子质谱仪扫描得到标准曲线并计算出1#稀释样品的浓度C1;同理计算出2#稀释样品中该种元素的浓度C2;并将结果带入拟合算法公式,得到该元素在待测定的半导体溶剂中的浓度。本发明通过同一样品不同稀释倍数法,对混合基体ICP‑MS测定的信号值进行背景拟合运算,实现痕量元素的准确测定。
声明:
“基于多重稀释法的半导体溶剂ICP-MS测定方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记