本公开涉及一种
电池包寿命预测方法、存储介质以及电子设备,涉及电池技术领域,该方法包括:确定待测电池包内的每个单体电池的初始的电池特性参数;根据预先构建的容量衰退模型、以及预先构建的
电化学‑热耦合模型对所述单体电池进行循环充放电模拟,以得到每次充放电模拟过程所述单体电池的端电压,从而根据端电压确定待测电池包的使用寿命。本公开的有益效果是:不仅能够准确对电池包的寿命进行预测,而且相比现有技术能够大幅缩短测试周期以及节省测试资源。
声明:
“电池包寿命预测方法、存储介质以及电子设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)