本发明涉及一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法,包括:在金属基底上制备固态电解质薄膜,在金属基底上留出空白空间作为测试电极,在固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜作为测试对电极;或在非金属基底上制备底层金属薄膜,在底层金属薄膜上制备固态电解质薄膜,底层金属薄膜留出空白空间作为测试电极,于固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜作为测试对电极。利用
电化学工作站分别以电解质薄膜的上下层金属作为电极与对电极,采用交流阻抗A.C Impedance的测试方法,得到Z’阻抗实部与‑Z’’阻抗虚部的曲线,通过计算得到电解质薄膜的离子电导率。本发明具有测试方法简单、测试效率高即精度高的优点。
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