本发明公开了一种镀层厚度测量方法,属于表面工程质量检测技术领域。所述镀层厚度测量方法包括以下步骤:通过
电化学反应将测试件一部分的镀层腐蚀掉,露出所述测试件本体表面;通过所述数字显微镜拍摄所述测试件本体表面与所述镀层连接处,获取图像;将所述图像通过拟合算法,画出所述镀层的延长线;测量延长线与所述测试件本体表面之间的间距,获得所述镀层的厚度。本申请镀层厚度测量方法测量简单,测量精度高,不会对人体造成损害。
声明:
“镀层厚度测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)