本发明公开一种双能X射线测量地层密度测井装置和方法,具体涉及石油及天然气勘探领域。该装置采用X射线管、电子加速管、监测探测器、远近两个NaI探测器。首先,利用监测探测器确保X射线产额稳定。然后,利用X射线在地层衰减原理,建立地层电子密度与高、低能窗计数的响应关系,从而计算精确的地层电子密度,通过地层电子密度与地层密度关系进一步计算地层密度。本发明通过采用监测探测器确保X射线产额稳定等手段,同现有方法相比获得了更为准确的计算基础,从而可以计算出准确的地层密度。另外,本发明装置还克服了对化学源的使用,更加健康、安全和环保,并有效降低了对电子加速管和探测器等的工艺要求。
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