本发明涉化学分析技术领域,具体为一种荧光探针法测定表面活性物质临界胶束浓度的方法。本发明方法采用n‑B
18H
22为荧光探针物质,发现阴离子表面活性剂SDS能增强n‑B
18H
22的荧光。在最佳条件下,荧光强度与SDS的浓度分别在0‑8.2×10
‑3mol/L及8.2×10
‑3mo/L‑3.27×10
‑2mol/L范围内分段成良好的线性关系,曲线的拐点对应的表面活性剂浓度即为其临界胶束浓度(CMC),据此,建立了本发明的测定CMC的简单荧光方法。结果表明由该法测定的CMC与已报道值符合,说明方法的可行性与准确性。
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