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基于谱学测量的外场作用下氢键局域势场的测量方法

645   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:24:13
本发明公开了一种基于谱学测量的外场作用下氢键局域势场的测量方法,从物理根源出发,构建氢键振动的拉格朗日方程,利用拉格朗日‑拉普拉斯变换获得氢键振动基本参数包括氢键键长、振频与氢键势场基本参数包括力常数、键能之间的本征定量关系,以最终获得氢键的局域势能以及其受激时的演化路径。本发明所述方法可用于测定氢键局域势场相关的力常数、键能及其随外部激励作用下的定量变化,填补了此类技术空白,进一步拓展了现有谱学技术的应用领域,并可提供原子以及分子间化学键内部作用的真实状态,对促进物理、化学、材料科学领域的发展都具有重大意义。
声明:
“基于谱学测量的外场作用下氢键局域势场的测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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