合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 原位X-射线吸收谱测量系统及测量方法

原位X-射线吸收谱测量系统及测量方法

705   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:23:24
本发明公开了一种原位X‑射线吸收谱测量系统及测量方法;测量系统包括:电化学工作站、PC机以及QXAFS电子学设备;PC机分别与电化学工作站和QXAFS电子学设备连接,用于控制电化学测试和X‑射线吸收谱测试同步进行;电化学工作站连接三电极电化学系统,其包括参比电极、对电极和工作电极,所述电极均置于含有电解质溶液的电化学反应池内;工作电极上涂覆有测试样品;QXAFS电子学设备连接有X‑射线发射装置以及X‑射线探测器;X‑射线发射装置朝向工作电极上的测试样品发射X‑射线;X‑射线探测器用于接收测试样品被激发的X‑射线荧光信号。通过该系统可以实现样品在同一条件下的多模式测试,将样品的结构与性能一一对应。
声明:
“原位X-射线吸收谱测量系统及测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记