本发明提供一种测试镁纯化效果的方法,采用真空蒸馏法在650~1100℃(优选650~750℃)和1~100Pa下对镁进行真空蒸馏处理,待蒸馏结束后准确获得剩余物的质量,并辅以X射线能谱分析法、X射线衍射法等测试方法,通过分析蒸馏残余物中杂质的成分和含量,反推出蒸馏原料镁的纯度。该方法能方便准确地对纯镁纯度进行分析测定,省去了光谱法、化学法等复杂的制样过程,能够实现对整块样品的分析表征,在测试精度上,该方法优于直接使用能谱分析等方法,在高纯镁的制备和生产上可以实现广泛应用。
声明:
“测试镁纯化效果的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)