本发明为一种用于绝缘体核材料中氧同位素的SIMS测量方法,其过程为:将铀氧化物微粒转移到石墨碳片上,制备成样品;对测量过程中需要用到的设备进行调试;测量铀氧化物微粒的氧同位素,并计算18O/16O的比值;校正测量值并计算不确定度;更换标样并卸载程序。这样,不需要进行样品的化学处理,可直接进行测量,使得分析速度更快、样品制备简单、样品用量也更小;同时SIMS具有微区分析和深度剖析的能力,可对样品的不同区域和不同深度的地方进行氧同位素的测量;SIMS通过接收O-进行测量,不需要转化CO2气体再测量,减少了中间环节,减少了最后结果不确定度的引入因素,能够满足核法证学关于快速、准确分析的特点。
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