本发明涉及基于双光子计数器宽线性范围的光子测量系统,属于光学检测技术领域,被测物发出的光经导光棒入射至分光装置的分光膜,经分光膜透射的透射光入射至测低值光子计数器,经分光膜反射的反射光经过光阑和衰减片后入射至测高值光子计数器,计算处理装置判断测高值光子计数器输出的第一测值是否大于阈值,阈值为测低值光子计数器的线性最高点对应的测高值光子计数器的光子数,若是,则计算处理装置输出光子探测值,光子探测值为第一测值与分光膜的分光比的乘积。本发明利用测低值光子计数器和测高值光子计数器相结合,实现微弱光相对光强的宽线性范围探测,从而满足化学发光免疫分析领域或者其他光能量探测等领域所需的宽线性范围测量的需求。
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