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X射线荧光光谱法测定无碱玻璃配合料中总硫含量的方法

895   编辑：管理员   来源：中冶有色技术网  
2023-03-19 07:22:38
本发明公开了一种X射线荧光光谱法测定无碱玻璃配合料中总硫含量的方法,所述测定方法包括制样、制作硫元素对应的校准曲线、测量无碱玻璃配合料样片中硫元素的X射线荧光强度并计算出无碱玻璃配合料中SO3含量等步骤,其中制样采用如下方法:称取相同质量的无碱玻璃配合料标准品和样品,分别放入振动磨的磨盘中,磨制50～70秒时间,磨制完成后,用硼酸镶边衬底,在压片机上设置2.0～3.5吨的压力,压制时间为15～25秒,制成无碱玻璃配合料标准样片和样片。本发明采用压片法制样,可以有效地抑制样品中硫的挥发,测量准确度、精密度较好,能够满足实际生产控制的需要,达到常规化学分析法测量精度;并且检测时间短,大大提高了工作效率。
声明：
“X射线荧光光谱法测定无碱玻璃配合料中总硫含量的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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