本发明提供一种利用X射线荧光光谱法测定钼制品中镧含量的方法,采用已知镧含量的标准样品进行X射线荧光光谱法测定并制得光谱强度与镧含量对应的工作曲线,然后待测钼制品完全氧化后,与混合熔剂熔融制备成样片,用X射线荧光光谱仪测定样片中被测元素的特征荧光光谱强度并与工作曲线作对比,从而得到钼制品中的镧含量。其测试过程中未使用腐蚀性酸碱对样品进行化学湿法处理其操作过程简单,检测周期短,不使用腐蚀性强酸强碱,比已查到相关期刊或专利样品处理方法更简便,样品熔融稀释倍率小,熔融时间短,检测范围宽,结果稳定性和准确性高,适用于批量生产分析。
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