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基于Cadence高线性激光器阵列芯片的测试系统

763   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:22:37
本发明属于高线性激光器阵列芯片测试领域,高线性激光器阵列芯片的检测设备由于体积大、投资多,费工时,不能连续测量,自动化程度低,且硬件检测也需要大量代表性样品进行化学分析建模,对小批量的芯片测试不切实际;本发明利用Cadence软件,引入电源电压、差分输入电压、参考电流,温度补偿调制电阻,偏置电流,激光器调制电流,环路失效报警信号,自动功率控制接地模块,搭建了一套方便快捷,显示直观,功能较齐全的智能测试系统,完成高线性激光阵列芯片的各项性能测试,本发明不需要任何硬件设备,能够验证高线性激光器阵列芯片各项性能是否达标。
声明:
“基于Cadence高线性激光器阵列芯片的测试系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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