适于检测具体分析物的传感器,用于制造该传感器的方法以及在所提供的诊断规程中使用该传感器的方法。在实施例中,传感器设备包括基板,部署在基板上的介电层以及部署在介电层上的探针层。探针层被配置为与分析物反应。所述反应可以包括:与分析物结合、经历探针层的化学特性的改变,或经历探针层的结构特性的改变。在示例中,介电层的属性被配置为在确定探针层是否已与分析物反应的过程期间识别设备。
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