本发明提供了一种玻璃微流控
芯片的质量检测方法,其特征在于:包括对玻璃微流控芯片通道的横截面轮廓测定、表面光洁度测定、表面电荷分布测定和化学性质确定。本发明提供了一种玻璃微流控芯片的质量检测方法的优点在于:首次全面、客观、准确的对玻璃微流控芯片的产品质量进行了监控,从而避免了以往在玻璃微流控芯片的生产使用过程中,由于产品评价标准的缺乏所造成的混乱局面;对出自不同厂家的玻璃微流控芯片进行产品质量检测的理想方法并,可成为行业标准。
声明:
“玻璃微流控芯片的质量检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)