一种高清晰X射线荧光检测装置,它涉及一种高清晰X射线荧光检测装置,本实用新型的目的是为了解决现有湿化学和传统XRF检测精度差,可靠性差,周期长,检测样品容易造成设备污染的问题。本实用新型的装置是将检测装置设置在外壳内,其中,检测装置包括X光发射装置、探测器、转盘式样品架、样品杯、电源和
真空泵;X光发射装置发射X光对放置在转盘式样品架上的样品杯内的样品进行检测,并通过探测器进行探测,电源为其提供电能,真空泵为检测装置抽真空。本实用新型的装置精确度和可靠性高;检验周转时间短;对小型和不规则形状物体进行分析时,分析区域仅1mm2;与XRF相比,结果更准确、更可靠。本实用新型应用于重金属检测领域。
声明:
“高清晰X射线荧光检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)