本发明属于
电化学技术领域,具体为一种扫描电化学显微镜探针及其制备方法。本发明制备方法包括:以纳米薄膜的形式制备探针的牺牲层;以纳米薄膜的形式在牺牲层上制备探针的绝缘层,绝缘层厚度控制在5‑50 nm;以纳米薄膜的形式在绝缘层上制备金属电极层,金属电极层的厚度控制在5‑50 nm;利用有机溶剂去除牺牲层释放绝缘层和金属层双层薄膜;双层薄膜的内应变梯度促使绝缘层和金属电极层卷曲,形成由绝缘层包裹金属电极层的微管结构。该结构可用作扫描电化学显微镜探针;通过材料和结构调节,实现更高的探测性能和显微成像分辨率。
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“扫描电化学显微镜探针及其制备方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)