本发明公开了一种利用紫外臭氧修复微流控
芯片内碳电极
电化学性能的方法,本发明通过将紫外臭氧清洗机产生的紫外臭氧气流导入到微流控芯片内,利用紫外臭氧与集成在微流控芯片中碳电极表面的有机污染物发生化学反应生成挥发性气体,实现微流控芯片中污染碳电极电化学性能的修复,最终确保利用碳电极进行重复性测试时实验数据的准确性。该方法操作简单方便、通用性强、经济性好。
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“利用紫外臭氧修复微流控芯片内碳电极电化学性能的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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