本发明涉及一种去除锗单晶片酸化学腐蚀后表面蓝色药印的方法,包括以下步骤:(1)配制氢氧化钠和过氧化氢混合水溶液;(2)将经过腐蚀后表面有蓝色药印的锗单晶片放入配制好的水溶液中进行处理;(3)将处理之后的锗单晶片清洗干净,并将其甩干;(4)甩干后,用强光灯检验锗单晶片的表面。本发明提供的方法简单易行,能有效去除酸化学腐蚀后锗单晶片表面上的蓝色药印,在节约成本的同时,大大提高了生产效率。
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