本发明属于
电池材料研发测试技术领域,具体涉及一种获取石墨极片
电化学活性面积的方法。本发明提供的获取石墨极片电化学活性面积的方法,通过扫描电子显微镜获得石墨极片中石墨颗粒的特征边长,并根据石墨极片的SOC状态选择合适的公式,将特征边长参数带入,即可获得不同SOC状态下的石墨颗粒电化学活性比表面积;根据石墨极片的质量获取石墨极片的电化学活性面积。本发明使用石墨极片质量和石墨晶体结构及石墨颗粒的特征尺寸计算石墨极片参与脱嵌锂电化学反应的电化学活性面积。该电化学活性面积相比直接使用极片面积或使用BET法计算的面积更接近实际的参与脱嵌锂反应的面积。该方法可表征出不同SOC状态下的石墨极片的有效面积。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)