本发明涉及一种用于组合材料
芯片的高通量
电化学表征的装置及方法。测试仪器包括丝束电极、丝束电极电流电位扫描仪、具有成分梯度分布的薄膜样品以及特定的腐蚀介质。采用丝束电极电流电位扫描仪中的丝束电极测量方法得到丝束电极每个探针的电极电位以及电流,从而可以比较薄膜样品表面不同区域的电位分布和电流分布,最终得到待测样品表面的局部电化学参数信息。这种测量方法具有操作简单、能够同时完成多区域的并行测量,因此可以大大提升电化学信息的表征速度,为材料的防蚀性能评价提供一种快速的筛选方法。
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“用于组合材料芯片的高通量电化学表征的装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)