目标分析物检测装置包括具有恒电位仪和耦合到恒电位仪的微控制器的壳体。该装置还包括基板,所述基板在基板的第一表面上具有多个电极。所述多个电极中的第一组电极限定第一样品检测区域。基板可拆卸地连接到壳体,使得在将基板连接到壳体时第一组电极耦合到恒电位仪。该装置还包括可耦合到基板的第二表面的磁体组件。该磁体组件包括位于磁体组件中的磁体,使得在将磁体组件耦合到基板上时,来自磁体的磁场穿过基板和第一组电极延伸到第一样品检测区域上方的区域中。
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