本发明公开了一种针对器件微放电抑制的多尺度关联分析方法,该方法涉及原子至纳米尺度、微米尺度和毫米至厘米尺度三个尺度,主要包括各个尺度上的参数计算和各尺度间的关联逻辑。原子至纳米尺度即材料化学组分与原子几何结构层面,表面微观结构层面属于微米尺度,而微波器件层面属于毫米至厘米尺度。该方法是一种从材料到表面再到器件的关联分析与设计方法。而且此关联分析方法成本低、周期短、效率高,为微放电实验的开展节省了大量的时间和无效试错成本。
声明:
“针对器件微放电抑制的多尺度关联分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)