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用于X荧光分析的粉末制样方法

845   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:54:49
本发明涉及化学分析技术领域,具体涉及一种用于X荧光分析的粉末制样方法;包括如下步骤:(1)将XRF迈拉膜盖在工作托盘上,再在XRF迈拉膜上放一只塑料环,使工作托盘完全托住塑料环;(2)往塑料环中加入粉末样品,刮平、压实,使粉末与塑料环环口平齐,得待制品;(3)将待制品放在压样机上进行压制,成型后撤去工作托盘,用透明胶带封实样片上与空气直接接触的一面,即得成品;本发明提供的制样方法简单、方便、快捷,制得的样片质量及使用效果好,在X射线照射及近真空环境的环境下依然能保持表面的平整和光滑,实际分析过程中不会开裂,从而避免污染分析腔,分析时也不会腐蚀分光晶体,大大提高了样品分析的准确性和X荧光使用的安全性。
声明:
“用于X荧光分析的粉末制样方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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