本发明公开了一种用于大规模集成
芯片内单个器件的抗辐照能力的分析方法,将完整的大规模集成电路芯片,开盖去封装,通过机械研磨和化学刻蚀,逐层剥离钝化层、金属互连线,获得器件外露的裸芯片;将所述器件外露的裸芯片置于Co60γ射线源电离辐射环境中,测试其电学特性;采用聚焦离子束,将器件外露的裸芯片进行切割,分离出芯片内部典型器件,并生长引线,获得隔离的单个器件测试系统;将所隔离的单个器件测试系统置于Co60γ射线源电离辐射环境中,测试其隔离状态下单个器件的电学特性。本发明直接测量裸芯片整体的辐照损伤,能够直接测量芯片内部单个器件辐照损伤电学性能,能够直接测试目标器件的辐照损伤特性。
声明:
“用于大规模集成芯片内单个器件的抗辐照能力的分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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