本发明公开了一种判别顺式与反式几何异构体的近红外光谱分析方法,先在一定的测量条件下采集几何异构体各顺式样品和反式样品的近红外光谱,所得光谱不进行预处理或进行化学计量学预处理,从所得光谱数据中选择建模光谱范围,对所选光谱范围的数据进行降维后,采用化学计量学方法建立并验证顺式与反式几何异构体的判别模型;然后取未知顺式与反式的几何异构体样品,按照前述相同方法采集近红外光谱并进行光谱数据的多步骤处理,最后应用所建模型进行顺式与反式几何异构体的判别。本发明基于几何异构体的近红外光谱,结合化学计量学技术,判别顺式与反式几何异构体,具有准确、简便、快速、无损的优点。
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