合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> X荧光分析仪双补偿件及制作方法

X荧光分析仪双补偿件及制作方法

862   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:54:47
一种轻便X射线荧光分析仪的双补偿件及制作 方法。是在X荧光分析仪探头中NaI(Tl)晶体的铍 窗口上加一片补偿件II和平衡滤片中的吸收片上加 一片补偿件I,可准确分析出原子序数为11— 50元素的Ka线的常量元素和大于50号元素的 La线的微量元素的荧光强度。能在野外、现场测试, 试样不需任何化学处理就可直接测金及其它有色、贵 重稀有金属元素。并且制作方法简单,材料易取。
声明:
“X荧光分析仪双补偿件及制作方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记