本发明涉及一种分析方法,具体涉及一种钴基合金的定量荧光分析方法。本发明的技术方案为,包括如下步骤:(1)测量钴基合金标样,绘制综合标准曲线;(2)确定荧光光谱仪的最佳测量参数,确定钴基合金的综合测量参数;(3)分析所述综合标准曲线,确定元素特征X射线强度与其元素含量的线性关系;(4)设定钴基合金虚拟合成标样中各元素的含量;(5)绘制单元素虚拟工作曲线;(6)利用单元素虚拟工作曲线测出待测钴基合金中各个元素的含量。本发明的一种钴基合金的定量荧光分析方法,解除了荧光光谱法对同牌号钴基合金标准物质的依赖,解决了新牌号钴基合金化学成分的定量问题,实现了未知牌号钴基合金的牌号鉴别。
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