本发明公开了一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法,该方法包括:(1)提供钛白粉标准样品;(2)采用化学滴定法和X射线荧光光谱法分别测试所述钛白粉标准样品中二氧化钛及包膜物和杂质元素的含量,并且基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据建立X射线荧光光谱法标准曲线;(3)采用X射线荧光光谱法,并且基于所述X射线荧光光谱法标准曲线测定钛白粉待测样品中二氧化钛含量。该方法可使得利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2的含量的操作过程更加简单易行。
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