铁品位分析仪源靶装置涉及一种专用于分析铁 精矿粉全铁含量的铁品位分析仪的源靶装置, 由铁壳和安装在 铁壳内的源室238Pu、放射源和正 比计数管以及铁精矿粉样品构成。样品受 238Pu低能γ射线照射后放出特 征X射线, 利用正比计数管测出铁峰X射线计数并利用相对分 析方法, 可测定样品中的全铁含量。本实用新型结构紧凑, 一次 测量总分析误差小于±0.45%, 达到国家规定的化学分析法的精 度, 故特别适用于即时、快速分析铁精矿粉全铁含量。
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