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鉴别盘锦大米的光谱分析方法

1047   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:50:37
本发明公开了一种鉴别盘锦大米的光谱分析方法,将待测大米进行粉碎预处理,利用傅里叶红外光谱仪采集预处理样品的光谱数据,结合化学计量法,建立判别模型,达到鉴别大米产地的目的。与现有技术相比,具有无前处理,无污染,无破坏性,可同时检测多项性能指标,成本低,判别精密度高等优点。
声明:
“鉴别盘锦大米的光谱分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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