本发明属于借助测定材料的物理性质来分析材料的领域,主要涉及金属材料的化学成分及其状态分析。本发明金属原位统计分布分析方法其步骤包括:激发光源系统对样品实施无预燃连续激发和同步扫描定位、激发的光谱色散成线状光谱、采集和记录单次火花放电的光谱强度、对采集和储存的线状光谱谱线强度进行统计解析,经计算机处理,测出样品的化学成分、偏析度、疏松度和夹杂物分布等参数。本发明的主要优点是测速快且准确。同时一次扫描就可测出样品中的各种元素参数。
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