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显微组分激光剥蚀同位素分析装置及方法

1064   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:50:36
本发明提供了一种显微组分激光剥蚀同位素分析装置及方法,属于测定岩石样品有机成分分析领域。本装置包括激光器、显微镜、样品池、高温氧化炉、冷阱以及同位素质谱仪等。在显微镜下观察找出置于样品池内的有机显微组分,通过激光剥蚀使其气化释放,释放的有机组分经高温氧化炉被氧化成二氧化碳和水,二氧化碳在冷阱内被富集,然后载气携带二氧化碳进入同位素质谱仪进行检测分析,从而确定各种有机质显微组分的同位素值。利用本装置,有效地避免了不同岩石组成成分同位素的混合,提高了地质解释精度,提供了更有针对性的有机地球化学信息,更好地为油气地质勘探服务。
声明:
“显微组分激光剥蚀同位素分析装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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