本实用新型公开了一种半导体化学气相沉淀装置金属面板测孔治具,属于气相沉淀装置测孔技术领域,包括治具本体,所述治具本体为一具有厚度的矩形板结构,所述治具本体上一侧设有对称设置的找正孔,所述治具本体中部开设有定位槽,所述定位槽为贯穿于治具本体的圆形通孔;所述定位槽的侧壁连接有定位环,所述定位环为一具有厚度和高度的圆环状结构,所述定位环上端面为阶梯状的台阶卡槽;所述治具本体的一角处连接有定位块,治具本体上定位块所在位置开设有底部定位孔。本治具节省测量时间,测孔位置固定,测量结果准确且有对比性。
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